反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR-100S可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100S還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內(nèi)飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

　　反射式膜厚儀測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

　　反射式膜厚儀的技術(shù)功能：

　　微電腦控制系統(tǒng)，大液晶顯示、PLC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看。

　　嚴格按照標準設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制。

　　測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

　　支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。

　　系統(tǒng)自動進樣，進樣步距、測量點數(shù)和進樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定。

　　實時顯示測量結(jié)果的較小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷。

　　配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

　　系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果。

　　標準的USB接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)。